近日，国家标准计划《光学和光子学 微透镜阵列 第3部分：光学特性测试方法》编制完成并征求意见，截止时间为2023年8月19日。主要起草单位有中科院重庆绿色智能技术研究院 、中国科学院光电技术研究所 、中科院大连化学物理研究所 、中国兵器工业标准化研究所 、电子科技大学等。

ISO14880系列标准规定的微透镜阵列产品，指的是由在公共基片的一个或多个表面内或表面上形成的非常小的透镜阵列，其主要应用于三维显示器、阵列光辐射源和光电探测器相关联的耦合光学器件、用于液晶显示器的增强型光学器件及光学并行处理元器件。

这一部分标准的编制目的是在第一批微透镜产品进入市场之际，明确微透镜阵列这一相对较新领域的术语。其他三个部分为：第2部分：波前像差测试方法；第3部分：除波前像差外的光学特性测试方法和第4部分：几何特性测试方法。本部分的规定的微透镜阵列的光学特性测试方法。

(资料图)

微透镜阵列市场迫切需要就微透镜阵列本身的光学特性测试方法达成一致。标准中关于光学特性的测试方法不仅有利于促进微透镜阵列产品的研制生产，还有助于科研工作和行业从业者在共同理解的基础上交流概念。

目前，国内在微透镜阵列方面无国家标准。

本标准中的微透镜阵列指的是在同一基片的内部或表面微透镜阵列。

第1-2章分别规定了本标准的范围、规范性引用文件;

第3章术语中，规定了微透镜及微透镜阵列的术语。

第4章测试项目，规定了微透镜阵列光学特性的基板测试

第5章测量方法，该章节的主要内容，包括测量原理、测量方法选择、测量设备、测量程序，以及重点测量参数(有效前后焦距，色差、焦点均匀性等)

第6章结果和不确定度，该章节的主要内容，规定不确定度的评估方法

第7章耦合效率及成像质量，该章节的主要内容，规定了耦合效率和成像质量的测量方法

第8章测试报告，该章节的主要内容，规定了记录的内容

附录A表述了使用斐索干涉仪系统的测量，包括测试设备、测试过程及有效前后焦距的测量。

附录B表述了共焦法测量有效前后焦距方法，包括测试原理和设备。附录C表述了耦合效率和成像质量

附录D表述了微透镜阵列焦点位置均匀性的测量方法。